标准号：IEC 60749-10:2022
发布日期：2022-04-27
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly
半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击 器件和组件
IEC60749-10:2022的适用范围主要涉及半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在机械冲击和恒定加速度等机械应力条件下的测试要求和方法，适用于评估半导体器件在机械应力环境下的可靠性和耐久性。
IEC 60749-10:2022