标准号：IEC TR 62258-8:2008
发布日期：2008-05-14
Semiconductor die products - Part 8: EXPRESS model schema for data exchange
半导体芯片产品 - 第8部分：数据交换用EXPRESS模型模式
IECTR62258-8:2008的适用范围主要涉及半导体裸片的制造、供应和使用过程中的测试与数据交换。该技术报告为半导体行业提供了一套标准化的测试方法和数据格式指南，旨在促进供应链中各环节之间的信息交流与协作，确保半导体裸片的质量和可靠性。具体内容包括测试要求、数据格式规范以及相关建议，适用于半导体制造商、供应商和用户。
