IEC 60747-16-9:2024

标准号：IEC 60747-16-9:2024

发布日期：2024-10-09

Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters

半导体器件 - 第16-9部分：微波集成电路 - 移相器

IEC60747-16-9:2024的适用范围是半导体器件中基于氮化镓（GaN）的高电子迁移率晶体管（HEMT）的测试和测量方法标准。