标准号：IEC 62951-3:2018
发布日期：2018-11-07
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
半导体器件 - 柔性可拉伸半导体器件 - 第3部分：柔性基底在鼓胀状态下薄膜晶体管特性的评估
IEC62951-3:2018的适用范围是半导体器件柔性可拉伸器件的测试方法，具体针对柔性电子器件的机械耐久性评估。
IEC 62951-3:2018