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IEC 63287-2:2023 半导体器件 - 可靠性鉴定计划指南 - 第2部分:任务剖面概念

标准号:IEC 63287-2:2023

发布日期:2023-03-29

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

半导体器件 - 可靠性鉴定计划指南 - 第2部分:任务剖面概念

IEC63287-2:2023的适用范围是:规定用于评估和测试光伏组件在动态机械载荷(如风、雪等引起的载荷)下的结构完整性和电气性能的测试方法及要求。该标准适用于地面用晶体硅光伏组件,旨在确保其在承受动态机械应力时的可靠性和耐久性。

IEC 63287-2:2023

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