标准号：IEC 60749-5:2023
发布日期：2023-12-19
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第5部分：稳态温湿度偏置寿命试验
IEC60749-5:2023的适用范围是半导体器件的机械和气候试验方法，具体针对稳态湿热环境下的耐久性测试。该标准规定了在高温高湿条件下评估半导体器件可靠性的试验程序和要求，主要用于验证器件在长期湿热环境中的性能稳定性与耐受能力。
