IEC 62779-2:2016 半导体器件 - 人体通信用半导体接口 - 第2部分：接口性能表征

标准号：IEC 62779-2:2016

发布日期：2016-02-18

Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 2: Characterization of interfacing performances

半导体器件 - 人体通信用半导体接口 - 第2部分：接口性能表征

IEC62779-2:2016的适用范围为：本标准规定了用于测量、控制或实验室设备的半导体器件（如光电耦合器）在电快速瞬变脉冲群（EFT/B）抗扰度试验中的要求和测试方法，主要适用于评估器件对电气环境中快速瞬变干扰的耐受能力。