标准号:IEC 62951-2:2019
发布日期:2019-04-17
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing and threshold voltage of flexible devices
半导体器件 - 柔性及可拉伸半导体器件 - 第2部分:柔性器件电子迁移率、亚阈值摆幅与阈值电压的评估方法
IEC62951-2:2019的适用范围是半导体器件中柔性薄膜器件的测试方法,具体针对机械耐久性评估。该标准规定了用于评估柔性薄膜半导体器件在反复弯曲、折叠等机械应力下性能与可靠性的测试程序和要求。
IEC 62951-2:2019 半导体器件 - 柔性及可拉伸半导体器件 - 第2部分:柔性器件电子迁移率、亚阈值摆幅与阈值电压的评估方法
