IEC 61967-2:2005 集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第2部分：辐射发射测量 - TEM小室和宽带TEM小室法

标准号：IEC 61967-2:2005

发布日期：2005-09-29

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method

集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第2部分：辐射发射测量 - TEM小室和宽带TEM小室法

IEC61967-2:2005的适用范围是集成电路电磁发射测量，第2部分规定了使用横电磁波室（TEMcell）和带状线方法测量150kHz至1GHz频率范围内集成电路辐射电磁发射的测试方法。该标准适用于评估集成电路作为辐射源的电磁兼容性（EMC）特性。