IEC 60747-4:2007 半导体器件 - 分立器件 - 第4部分：微波二极管和晶体管

标准号：IEC 60747-4:2007

发布日期：2007-08-23

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors

半导体器件 - 分立器件 - 第4部分：微波二极管和晶体管

IEC60747-4:2007的适用范围是半导体分立器件和集成电路中，关于微波器件的测试方法。该标准规定了微波二极管、晶体管等器件在射频和微波频率下的电性能测试要求，适用于相关器件的设计、生产和检验。