IEC 62215-3:2013 集成电路 - 脉冲抗扰度测量 - 第3部分：非同步瞬态注入方法

标准号：IEC 62215-3:2013

发布日期：2013-07-17

Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

集成电路 - 脉冲抗扰度测量 - 第3部分：非同步瞬态注入方法

IEC62215-3:2013的适用范围是：该标准规定了集成电路（IC）在核电磁脉冲（NEMP）和辐射环境下的抗扰度测试方法，主要适用于评估IC对高空核爆炸产生的电磁脉冲（HEMP）等瞬态电磁干扰的耐受能力。