IEC 62132-2:2010 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分：辐射抗扰度测量 - TEM小室和宽带TEM小室法

标准号：IEC 62132-2:2010

发布日期：2010-03-30

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method

集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分：辐射抗扰度测量 - TEM小室和宽带TEM小室法

IEC62132-2:2010的适用范围是：规定集成电路（IC）对传导射频干扰的电磁抗扰度测量方法，主要针对150kHz至1GHz频率范围内的连续波干扰。该标准适用于评估IC在受到来自电源线或信号线的传导射频干扰时的性能表现。