IEC 62526:2007 半导体设计环境标准测试接口语言（STIL）扩展标准

标准号：IEC 62526:2007

发布日期：2007-11-07

Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments

半导体设计环境标准测试接口语言（STIL）扩展标准

IEC62526:2007的适用范围是：该标准规定了用于工业过程测量和控制的通用现场设备工具（CFDT）的概念、要求与集成方法，主要适用于现场设备的配置、调试、诊断和维护等工程任务，支持设备在整个生命周期内的信息交换与互操作性。