IEC 60749-1:2002 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第1部分：总则

标准号：IEC 60749-1:2002

发布日期：2002-08-30

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第1部分：总则

IEC60749-1:2002的适用范围是半导体器件机械和气候试验方法的标准，主要规定了半导体器件在机械和气候环境条件下的基本试验要求和方法，用于评估器件的可靠性和耐久性。