IEC 60749-2:2002 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第2部分：低气压

标准号：IEC 60749-2:2002

发布日期：2002-04-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第2部分：低气压

IEC60749-2:2002的适用范围是：本部分规定了半导体器件的环境试验方法，特别是针对机械冲击试验，用于评估器件在运输、搬运或使用过程中可能遇到的机械冲击条件下的耐受能力。