标准名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
标准号：GB/Z 107-2025
发布日期：2025-12-03
标准类别：方法
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术,以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平,有助于提升系统可靠性。
