标准号：IEC 62258-5:2006
发布日期：2006-08-29
Semiconductor die products - Part 5: Requirements for information concerning electrical simulation
半导体芯片产品 - 第5部分：关于电气仿真的信息要求
IEC62258-5:2006的适用范围主要涉及半导体裸片的测试和测量。该标准是半导体裸片供应过程中测试和测量要求的一部分，旨在确保半导体裸片的质量和可靠性。它规定了测试方法、测量参数以及相关要求，适用于半导体制造和供应链中的裸片测试环节。
IEC 62258-5:2006