IEC 60749-7:2011 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第7部分：内部湿气含量测量及其他残留气体分析

标准号：IEC 60749-7:2011

发布日期：2011-06-17

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第7部分：内部湿气含量测量及其他残留气体分析

IEC60749-7:2011的适用范围是半导体器件机械和气候试验方法第7部分：内部水分含量测量和其他残余气体分析。该标准规定了测量半导体器件封装内部水分含量及其他残余气体的测试方法，主要用于评估器件的可靠性，特别是防止因内部湿气导致失效的风险。