IEC 60747-8:2010 半导体器件 - 分立器件 - 第8部分：场效应晶体管

标准号：IEC 60747-8:2010

发布日期：2010-12-15

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors

半导体器件 - 分立器件 - 第8部分：场效应晶体管

IEC60747-8:2010的适用范围是半导体分立器件中的场效应晶体管（Field-EffectTransistors,FETs）。该标准规定了各类场效应晶体管（如结型场效应晶体管JFET、金属氧化物半导体场效应晶体管MOSFET等）的术语、定义、测试方法、电特性参数以及相关测量条件，旨在确保这类器件的性能、可靠性和测试结果在国际范围内具有一致性和可比性。