IEC 62416:2010 半导体器件 - MOS晶体管热载流子测试

标准号：IEC 62416:2010

发布日期：2010-04-26

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

半导体器件 - MOS晶体管热载流子测试

IEC62416:2010的适用范围是：该标准规定了在高温环境下，对表面贴装技术（SMT）电子组件进行长期可靠性评估的测试方法。它主要适用于评估电子组件在高温工作条件下的耐久性和性能退化情况，为相关产品的设计和质量控制提供依据。