IEC 62132-8:2012 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分：辐射抗扰度测量 - IC带状线法

标准号：IEC 62132-8:2012

发布日期：2012-07-06

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method

集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分：辐射抗扰度测量 - IC带状线法

IEC62132-8:2012的适用范围是规定集成电路（IC）对传导射频（RF）电磁干扰的抗扰度测量方法，主要针对150kHz至1GHz频率范围内的传导抗扰度测试。该标准适用于评估IC在受到来自电源线、信号线等传导路径的射频干扰时的性能表现，为集成电路的电磁兼容性（EMC）设计、测试和验证提供统一方法。