标准号：T/CIE 144-2022
标准名称：半导体器件可靠性强化试验方法
英文名称：Reliability enhancement test of semiconductor devices
发布日期：2022-12-31
实施日期：2023-01-31
本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。 本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。
起草人：杨少华、颜佳辉、薛海红、牛皓、刘昌、王铁羊、吕宏峰、来萍、许少辉、赖灿雄、陈希宇、廖文渊、柳月波
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院
发布部门：中国电子学会
