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T/CEMIA 030-2022 半导体用正胶显影液

标准号:T/CEMIA 030-2022

标准名称:半导体用正胶显影液

英文名称:Positive photoresist developer for semiconductor manufacture

发布日期:2022-04-20

实施日期:2022-07-20

本文件规定了半导体用正胶显影液的分类和标记、要求、检验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存和安全。 本文件适用于半导体用正胶显影液,其主要组分为通过季铵盐化合物电解制得的四甲基氢氧化铵。 四甲基氢氧化铵的基本信息见附录A中的A.1。

起草人:邢攸美、李潇逸、张之钧、赵健、胡涛、李盈盈、陈东良、顾峻、徐文干、孙炜、刘新雨、王琪、周利超、李林佳、余红刚、倪芸岚、陈海刚、杨小平、章帅迪、刘永南、姚艺融、刘为波、翁雪平、傅华、高小云

起草单位:杭州格林达电子材料股份有限公司

发布部门:中国电子材料行业协会

T/CEMIA 030-2022 半导体用正胶显影液

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