T/ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头

标准名称：半导体芯片测试用探针头

标准编号：T/ZZB 3888—2024

英文标题：Semiconductor chip test probe plungers

国际标准分类号：31.240

中国标准分类号：L97

国民经济分类：C397 电子器件制造

发布日期：2024年12月06日

实施日期：2024年12月06日

起草人：曹镭、李云峰、王京松、李婧。

起草单位：浙江金连接科技股份有限公司、北京金连接科技有限公司、成都麦克凯利科技有限公司。